测量系统分析用于评估当前的测量系统是否有能力满足测量要求。通常包括以下几个方面：

• 分辨力分析
• 稳定性分析
• 偏倚分析
• 线性分析
• 重复性（RPT）和再现性（RPD）分析

1、测量系统的变差

变差是指在相同条件下，多次测量结果的变异程度。常用测量结果的标准差（σ）或过程变差（PV=5.15σ，测量结果在此区间概率99%）来表示。

2、分辨力分析

测量设备的分辨力，也称为最小可读单位。通常要求要小于过程变差（6σ）或规格范围（公差）的1/10。通常这点可以很好保证，如无法保证，则需要提高测量设备的分辨力。

3、稳定性分析

在重复测量的情况下，测量系统的变差只能由普通因素造成，而不能存在特殊因素。稳定性分析可以通过控制图来进行分析。

4、偏倚和线性分析

偏倚（准确度）是多次测量结果的平均值与基准值的差值。通常可通过检定/校准来估计或消除偏倚。

线性是在量具预期的工作范围内，偏倚值的差异。比如在测量X值的时候，偏倚值是X’，在测量Y值的时候，偏倚值是Y‘。

5、重复性和再现性分析

重复性（Repeatability）是由一个操作者采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。重复性是设备产生的变差，是设备本身固有的。

再现性（Reproducibility)是由不同的操作者（传统定义），采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时，测量平均值的变差。或者在改变了的测量条件下，同一被测量的测量结果之间的一致性。可改变的条件包括：测量原理、测量方法、观测者、测量仪器、参考测量标准、地点、使用条件、时间等。

6、测量系统需分析的项目

在进行测量系统分析的时候，并不总是同时研究测量系统的所有变差。例如对于普通的测量设备，通过周期的检定/校准可保证偏倚和线性的要求，只需对测量系统的重复性和再现性进行评定分析。对于自动测量设备来说，主要分析其测量系统的稳定性和重复性等。

7、重复性和再现性评价标准

标准1：Xbar-R图应该同时满足下列条件

1. 在Xbar图上有50%以上的子组均值在上下控制限之外。
2. 在相应的R图上各极差受控（点落在控制限内）

标准2：%GRR决定准则

1. %GRR<10%——测量系统可接受
2. %GRR在10%-30%范围内——在权衡应用的重要性、量具成本、维修费用等基础上，可以考虑接受。
3. %GRR>30%——测量系统不能接受。应努力找出问题所在，并加以纠正，然后再进行测量系统分析。

标准3：分级数ndc决定准则

ndc应该大于或等于5，说明测量系统有足够的分辨力。